蘋果logo形貌測量
日期:2021-09-01
來源:三姆森科技
測量要求
掃描手機殼上蘋果logo的三維形貌,提取profile測量不同位置的段差
主要特點概覽
1.非接觸式測量,一體化設計
2.三維形貌掃描,多功能數據處理
3.適用于各種材料的精確測量
4.使用簡單,裝拆方便
5.掃描速度快,定位精度高
6.±0.5到±1μm重復精度保證
7.穩定性高,抗干擾能力強
測量結果
不同位置段差不同,基本在0到15μm之間
解決現階段測量裝置存在的問題
1.磨損量小,測定困難
2.對材料有一定要求接觸式測量,對測量材料有損
3.壞磨損位置不確定,測量速度慢精度低,測量誤差大
4.結構復雜,成本高